VAI TRÒ CỦA HOẠT ĐỘNG KIỂM THỬ TRONG QUY TRÌNH THIẾT KẾ VÀ CHẾ TẠO IC BÁN DẪN
DOI:
https://doi.org/10.59266/houjs.2025.738Abstract
Bài viết này trình bày một cách có hệ thống vai trò của kiểm thử trong việc đảm bảo chất lượng và độ tin cậy của các vi mạch bán dẫn (IC) trong quy trình sản xuất hiện đại. Bài viết tập trung vào các giai đoạn kiểm thử chủ chốt, công nghệ tiên tiến được ứng dụng, và những chiến lược tối ưu hóa nhằm giảm thiểu rủi ro lỗi sản phẩm. Đặc biệt, bài viết nêu bật mối liên hệ giữa kiểm thử và thiết kế IC, phân tích dữ liệu kiểm thử để cải tiến chất lượng sản phẩm, đồng thời chỉ ra hướng phát triển tương lai của kiểm thử dựa trên trí tuệ nhân tạo (AI) và kiểm thử tích hợp trên hệ thống.
References
[1]. Wang, L. T., Wu, C. W., & Wen, X. (2006). VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann;
[2]. Patel, R., et al. (2019). AI-assisted Test Flow Optimization in Semiconductor Manufacturing. IEEE Design & Test;
[3]. Burns, M., & Roberts, G. W. (2001). An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement. Oxford University Press;
[4]. [Kundu, S., & Chakrabarty, K. (2010). Test data compression for VLSI testing: Survey and comparative study. ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems.
[5]. Li, X., Wang, Y., & Zhang, Q. (2021). Machine Learning Applications in Semiconductor Manufacturing Test and Yield Analysis. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 34(2), 213–223.
[6]. Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. IEEE Press.
